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[发明专利]物料测量装置及物料测量系统-CN202010433969.3在审
发明人：呼秀山;夏阳 -专利权人：北京锐达仪表有限公司
申请日： 2020-05-21 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本公开提供了一种物料测量装置，包括：多个微带天线，形成多个收发天线单元，所述收发天线单元包括发射天线与接收天线，所述发射天线用于生成微波发射波束，所述接收天线用于接收所述微波发射波束被反射后而生成的微波反射波束，通过所述微波发射波束和所述微波反射波束来对物料进行测量；以及微波透镜，所述多个微带天线位于所述微波透镜的一侧，在所述微波透镜的另一侧，所述微波透镜会聚每个发射天线所发射的微波发射波束，会聚后的每个微波发射波束的角度不同本公开还提供了一种物料测量系统。
物料测量装置系统

[实用新型]物料测量装置及物料测量系统-CN202020868401.X有效
发明人：呼秀山;夏阳 -专利权人：北京锐达仪表有限公司
申请日： 2020-05-21 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本公开提供了一种物料测量装置，包括：多个微带天线，形成多个收发天线单元，所述收发天线单元包括发射天线与接收天线，所述发射天线用于生成微波发射波束，所述接收天线用于接收所述微波发射波束被反射后而生成的微波反射波束，通过所述微波发射波束和所述微波反射波束来对物料进行测量；以及微波透镜，所述多个微带天线位于所述微波透镜的一侧，在所述微波透镜的另一侧，所述微波透镜会聚每个发射天线所发射的微波发射波束，会聚后的每个微波发射波束的角度不同本公开还提供了一种物料测量系统。
物料测量装置系统

[发明专利]物料堆参数测量装置、方法及系统-CN201610154410.0有效
发明人：徐善龙 -专利权人：浙江方舟粮食仓储有限公司
申请日： 2016-03-17 - 公布日： 2017-10-10 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本发明一种物料堆参数测量装置、方法及系统，涉及物料堆参数测量设备领域。该物料堆参数测量装置、方法及系统利用一拉力传感模块采集位于物料仓内的一测量件受到的物料拉力值，并发送到物料堆参数测量装置，经物料堆参数测量装置的判断物料堆参数查找表是否存在与所述物料拉力值匹配的对比拉力值，如果是，则如果预存储的物料堆参数查找表存在与所述物料拉力值匹配的对比拉力值，则通过物料堆参数测量装置的结果输出单元依据所述物料堆参数查找表输出与该对比拉力值对应的物料堆参数，从而获得物料堆参数。该物料堆参数测量装置、方法及系统对物料堆参数的测量方式简单、成本低廉，且不会受到物料粉尘、潮气、物料熏蒸剂的腐蚀，使用寿命长。
物料参数测量装置方法系统

[实用新型]一种适用于硅溶胶生产高温反应釜的pH测量装置-CN202223345336.0有效
发明人：李晓宇;庞祥波;李帅帅;杨绍寒;李春生 -专利权人：山东安特纳米材料有限公司
申请日： 2022-12-13 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： B01J19/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种适用于硅溶胶生产高温反应釜的pH测量装置，包括物料循环泵、pH测量单元和物料冷却单元；所述pH测量单元用于对硅溶胶反应物料进行pH测量，其包括pH计和三通；所述物料冷却单元用于对硅溶胶反应物料进行冷却，其包括物料冷却器、冷却水循环泵、冷却水池。通过物料循环泵在高温反应釜中将物料循环取出，通过物料冷却单元将物料冷却后通过pH测量单元对硅溶胶反应过程中的物料进行pH测量，实现了硅溶胶反应过程中物料pH的实时测量与监控。通过物料冷却单元将待测物料冷却，有效解决了由于反应物料温度很高，造成pH计测量电极损坏或寿命缩短的问题，延长pH计测量电极的使用寿命。
一种适用于硅溶胶生产高温反应 ph 测量装置

[实用新型]流量测量装置及物料供应系统-CN202020890249.5有效
发明人：杨磊;刘伟明;麻礼东;舒亚锋;杨阳阳;张建荣;高笑菲 -专利权人：中国科学院近代物理研究所
申请日： 2020-05-25 - 公布日： 2020-11-13 - 主分类号： G01F1/86 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种流量测量装置(100)及物料供应系统，所述流量测量装置(100)包括：水平设置的缓冲部(1)，配置为承接来自物料供应装置的物料；水平设置的测量部(2)，与所述缓冲部(1)平齐地连接，配置为承接来自所述缓冲部(1)的所述物料；质量测量单元(3)，设置为测量流过所述测量部(2)的所述物料的质量；速度测量单元(4)，设置为测量流过所述测量部(2)的所述物料的速度；以及处理单元，设置为：基于所述质量测量单元(3)和所述速度测量单元(4)的测量结果，计算所述物料的流量值。
流量测量装置物料供应系统

[发明专利]一种核物料测量装置-CN202011527647.1有效
发明人：祝利群;柏磊;许小明;李新军;邵婕文;程毅梅;靳占勇 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2020-12-22 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01T1/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种核物料测量装置，包括物料通道、中子测量结构和同位素探测结构；所述物料通道伸入所述中子测量结构以便其对所述物料通道中的核物料进行中子测量；所述中子测量结构上设置有与所述同位素探测结构相配合的探测狭缝以便所述同位素探测结构对所述核物料进行同位素测量本发明的有益效果如下：本发明通过在中子测量结构上设置探测狭缝的方式，实现了包括中子测量和同位素测量(γ测量)的综合测量自动化，避免操作人员的辐射危险，保障了人员的安全。本发明能够对分布于搁架中不同位置的核物料进行测量，同时能够完好的屏蔽物料核辐射，使测量环境辐射水平保持在较低水平。
一种物料测量装置

[实用新型]流量测量装置及物料供应系统-CN202020890228.3有效
发明人：杨磊;麻礼东;刘伟明;舒亚锋;杨阳阳;张建荣;高笑菲 -专利权人：中国科学院近代物理研究所
申请日： 2020-05-25 - 公布日： 2020-10-30 - 主分类号： G01F1/86 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种流量测量装置(100)及物料供应系统，所述流量测量装置(100)包括：水平设置的第一测量部(1)，配置为承接来自物料供应装置的物料，其中，所述物料沿预设倾角流至所述第一测量部(1)；水平设置的第二测量部(2)，与所述第一测量部(1)平齐地连接，配置为承接来自所述第一测量部(1)的所述物料；第一测量单元(3)，设置为测量流过所述第一测量部(1)的所述物料的质量；第二测量单元(4)，设置为测量流过所述第二测量部(2)的所述物料的质量；以及处理单元，设置为：基于所述预设倾角、所述第一测量单元(3)和所述第二测量单元(4)的测量结果，计算所述物料的流量值。
流量测量装置物料供应系统

[发明专利]测量装置-CN201911118870.8在审
发明人：谢煜;何岗;谭将强;张双诚;李丹;张泽飞;黄良荣;陈胤君;银维友 -专利权人：深圳市亿图视觉自动化技术有限公司
申请日： 2019-11-15 - 公布日： 2020-03-06 - 主分类号： B65G43/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种测量装置，包括测量机构、上料机构以及下料机构。测量机构用于在测量工位对物料采用摄像方式进行尺寸测量，上料机构包括上料载台和上料组件，上料载台能够将多个物料逐次送至上料工位，上料组件用于从上料工位抓取物料，并将物料移动至测量工位，下料机构包括下料载台和下料组件，下料组件用于从测量工位抓取物料，并将物料移动至下料载台，下料载台能够对已测物料进行下料处理本发明提供的测量装置，本发明提供的测量装置实现了测量装置的全自动化，提高了作业效率。
测量装置

[实用新型]一种测高相机结构-CN202223217566.9有效
发明人：杨露 -专利权人：杭州康普特精密技术有限公司
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本实用新型涉及测量技术领域，公开了一种测高相机结构，其技术方案要点是包括基座、摄像机、控制器、测量部和带有独立动力源的物料移动部；所述测量部设置在基座上，摄像机设置在基座上，位于测量部侧面，控制器在基座上，用于对摄像机传递移动信号；当需要测量物料高度时，物料移动部不吸附物料，位于测量部上侧，为第一工作状态，物料移动部吸附物料，移动到测量部，为第二工作状态，通过先对物料移动部没带物料的时候进行位置初测定，然后物料移动部将物料移动到摄像机位置后，进行位置测定，然后会出现位置差值，从而得到物料的厚度，继而可以方便贴合，并且对物料减少极大程度的损坏。
一种测高相机结构

[实用新型]测量装置-CN201921987711.7有效
发明人：谢煜;何岗;谭将强;张双诚;李丹;张泽飞;黄良荣;陈胤君;银维友 -专利权人：深圳市亿图视觉自动化技术有限公司
申请日： 2019-11-15 - 公布日： 2020-08-25 - 主分类号： B65G43/08 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种测量装置，包括测量机构、上料机构以及下料机构。测量机构用于在测量工位对物料采用摄像方式进行尺寸测量，上料机构包括上料载台和上料组件，上料载台能够将多个物料逐次送至上料工位，上料组件用于从上料工位抓取物料，并将物料移动至测量工位，下料机构包括下料载台和下料组件，下料组件用于从测量工位抓取物料，并将物料移动至下料载台，下料载台能够对已测物料进行下料处理本实用新型提供的测量装置，本实用新型提供的测量装置实现了测量装置的全自动化，提高了作业效率。
测量装置

[发明专利]自适应计量仓-CN202210969526.5在审
发明人：戴春华 -专利权人：戴春华
申请日： 2022-08-12 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： B65D88/00 文献下载
摘要：该计量仓包括：计量仓主体、物料整形机构和驱动机构；计量仓主体为倒置的锥形，计量仓主体内部用以填充待测粉料；物料整形机构设于计量仓主体上方，物料整形机构能沿竖直方向移动；计量仓主体与物料整形机构共同围设形成可变容积的测量仓室，测量仓室用以测量一定重量的待测粉料的体积；当待测粉料与物料整形机构的底部接触时，通过物料整形机构移动以使测量仓室扩容，且物料整形机构能使待测粉料充满测量仓室；驱动机构与物料整形机构连接，用以驱动物料整形机构上下移动通过本发明，仓容能自动调节，测量物料体积方便，适应不同重量物料的体积测量，测量效率高，操作强度低。
自适应计量

[实用新型]自适应计量仓-CN202222130103.2有效
发明人：戴春华 -专利权人：戴春华
申请日： 2022-08-12 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： B65D88/00 文献下载
摘要：该计量仓包括：计量仓主体、物料整形机构和驱动机构；计量仓主体为倒置的锥形，计量仓主体内部用以填充待测粉料；物料整形机构设于计量仓主体上方，物料整形机构能沿竖直方向移动；计量仓主体与物料整形机构共同围设形成可变容积的测量仓室，测量仓室用以测量一定重量的待测粉料的体积；当待测粉料与物料整形机构的底部接触时，通过物料整形机构移动以使测量仓室扩容，且物料整形机构能使待测粉料充满测量仓室；驱动机构与物料整形机构连接，用以驱动物料整形机构上下移动通过本实用新型，仓容能自动调节，测量物料体积方便，适应不同重量物料的体积测量，测量效率高，操作强度低。
自适应计量

[发明专利]物料测量装置、储料器具及烹饪设备-CN201810124420.9在审
发明人：周亚;杨保民;潘典国;周忠宝;刘小力;何新华;刘经生;区达理 -专利权人：佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司
申请日： 2018-02-07 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： A47J27/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种物料测量装置、储料器具及烹饪设备，物料测量装置包括：储料箱、隔板和检测机构，隔板设置在储料箱内，并将储料箱的内部空间分隔成主料腔和测量料腔，且隔板上开设有连通主料腔和测量料腔的通料口；检测机构与测量料腔相配合，用于检测测量料腔内的物料量。该物料测量装置，通过在储料箱内设置隔板将其分成大小两部分，且隔板上开设通料口以连通两部分，由于在自然重力条件下，当物料稳定后，测量料腔内物料的堆积状态与主料腔内物料的堆积状态呈一定的函数关系，因而通过检测测量料腔内的物料量，即可得到主料腔内的物料量，进而间接得到储料箱内的物料总量，且原理新颖，功能可靠，测量精度高，不影响储料箱的正常储料量。
储料料腔隔板测量装置主料腔储料箱物料量测量检测测量烹饪设备通料口连通堆积测量精度高隔板设置函数关系物料总量自然重力分隔配合

[实用新型]CCD筛选机-CN201420811417.1有效
发明人：官大荣;李玉玲;李宇 -专利权人：深圳威斯特姆智能技术有限公司
申请日： 2014-12-18 - 公布日： 2015-07-01 - 主分类号： G01C11/00 文献下载
摘要：该CCD筛选机包括机台，机台上设有用于承载物料并带动物料运动的旋转盘以及用于测量物料高度的视觉测量装置，视觉测量装置设在旋转盘的一侧，旋转盘上设有用于引导旋转盘上的物料沿直线运动的导向板，导向板与视觉测量装置之间保持相对静止，物料被导向板引导所做的运动的方向垂直于视觉测量装置的光线入射方向。本实用新型使用一个导向板使得物料的运动方向垂直于视觉测量装置的光线入射方向，这样在保证物料在测量过程中一直跟随旋转盘运动的前提下，使得物料的对角点所在平面在测量过程中保持与视觉测量装置的光线入射方向垂直，也即是在不影响物料的运转的情况下，提高了对物料高度的测量准确度。
ccd 筛选

[发明专利]一种边缘厚度测量方法、装置、边缘厚度测量设备及介质-CN202111031927.8有效
发明人：潘涛;姚毅;杨艺;戴志强 -专利权人：凌云光技术股份有限公司;苏州凌云光工业智能技术有限公司;苏州凌云视界智能设备有限责任公司
申请日： 2021-09-03 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种边缘厚度测量方法、装置、边缘厚度测量设备及介质。该边缘厚度测量方法包括：获取安装于扫描平台两侧的第一线阵相机和第二线阵相机坐标系间的旋转平移矩阵；通过第一线阵相机拍摄待测物料，得到第一物料深度图像，拟合出待测物料边缘所在的初始物料边缘基准平面，并根据初始物料边缘基准平面确定物料边缘厚度测量感兴趣区域；根据旋转平移矩阵将初始物料边缘基准平面由第一坐标系切换为第二坐标系，得到目标物料边缘基准平面；在第二坐标系下，将测量得到的物料边缘厚度测量感兴趣区域内三维空间点到目标物料边缘基准平面的距离，作为待测物料的边缘厚度值以实现提高测量精度和效率，节约测量成本，同时简化测量手段。
一种边缘厚度测量方法装置测量设备介质

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